PRODUCT
접촉/비접촉 3차원 측정기
화상 측정기
제품특징
자세한 내용은 제품 카탈로그를 참고하세요.- QV에 백색광 간섭계를 탑재한 복합형 고정도 3D 계측 시스템입니다.
- WLI 광학계로 수집한 3D 데이터로부터 3차원 표면 성상 해석/3차원 조도 해석이 가능합니다.
- 3D 데이터로부터 지정 높이의 치수 측정 및 단면 형상 측정이 가능합니다.
시스템선택
시스템을 선택하세요.비접촉 3D 측정 시스템
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Hyper QV WLI
비접촉 3D 측정기
| X최대(mm) | Y최대(mm) | Z최대(mm) | 최고정도(μm) |
| ~600 | ~650 | ~220 | 0.8+2L/1000~ |